支持五大核心测试场景：连续读写（Seq Q1T1）、半随机大块读写（512K Q8T8）、高并发小文件读写（4K Q32T1）、传统4K随机（4K Q1T1），以及专为现代SSD优化的NCQ/AHCI深度队列测试（4K Q32T1），全面覆盖不同使用负载下的真实性能表现。
所有测试均可自定义队列深度（QD）、线程数（T）、数据块大小及测试时长，还支持生成CSV报告，便于长期追踪硬盘健康趋势。
1. 点击【All】按钮可一键执行全部五项标准测试；也可单独勾选Seq、512K、4K、4K Q32T1等选项，按需定制测试项目。
2. 点击【文件】→【Test Data】可切换测试数据填充方式：默认随机数据、全零填充（0Fill）、全FF填充（1Fill），满足不同介质稳定性验证需求。
v7.0.0.2019 版本重点升级：新增Q8T8随机测试模式，强化对高端SSD多线程响应能力的评估；最高吞吐量支持上限提升至999999 MB/s，兼容未来超高速PCIe 5.0 SSD；移除已过时的简易序列测试（Simple Sequential），聚焦更科学的标准化基准。
07-10
